1. Gate dielectric integrity :
پدیدآورنده: Dinesh C. Gupta and George A. Brown, editors.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع: Dielectrics-- Testing.,Gate array circuits-- Materials.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration-- Reliability.,Semiconductor wafers-- Reliability.,Silicon oxide films-- Testing.,Dielectrics-- Testing.,Gate array circuits-- Materials.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration-- Reliability.,Semiconductor wafers-- Reliability.
رده :
TK7871
.
85
.
G32
2000
